《科创板日报》27日讯，胜科纳米近日宣布，其6篇学术论文获第32届IEEE集成电路物理和失效分析国际研讨会(IPFA 2025)录用，将在会议期间进行口头演讲或墙展报告。该研讨会是全球有关半导体物理分析、失效分析及可靠性方面学术水平最高、规模最大、影响力最广的国际会议之一，将于2025 年8月5日至8日在马来西亚槟城举行。